QY-CTAP 9800芯片测试老化系统
随着半导体产业的快速发展，芯片设计复杂度不断提升，对测试验证环节提出了更高要求。CECT旗下某院作为国家芯片技术研发的重要力量，承担着从器件研发到封装测试的全链条任务。为满足高精度、高可靠性芯片测试需求，亟需建设一套集静态参数测试、动态性能分析、环境应力老化验证于一体的综合性测试平台。河北全仪电子科技有限公司基于对半导体测试需求的深刻理解，整合行业优质资源，推出以艾德克斯、优利德、爱斯佩克、Pendulum等知名品牌为核心的高精度芯片测试老化系统。该系统覆盖从直流参数分析、高频信号测试到环境应力筛选的全测试流程，可满足数字集成电路、模拟集成电路、功率器件、传感器等多品类芯片的研发验证与可靠性考核需求。
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